電子芯片是電子產(chǎn)品的核心，所有的控制和操作都集中在芯片中。一般來說，芯片包含在產(chǎn)品外殼中，很少受到灰塵的影響，但不排除一些例外情況，如外殼損壞引起的灰塵侵入，會影響電子芯片的正常運行。通過專業(yè)沙塵試驗箱可以模擬各種粉塵侵入的場景。通過對電子芯片的粉塵試驗，可以很好地發(fā)現(xiàn)電子芯片的設(shè)計和保護(hù)缺陷。

　　電子芯片的防塵試驗主要研究不同顆粒大小的粉塵顆粒對電子芯片的影響。試驗的目的是檢測電子產(chǎn)品外殼對內(nèi)芯片等部件的保護(hù)，了解粉塵侵入對芯片的影響，以及是否會發(fā)生短路火災(zāi)。利用不同的粉塵濃度來測試電子芯片，制造不同溫度和濕度的環(huán)境。

 

　　電子芯片防塵試驗時，常規(guī)粉塵顆粒大小的粉塵一般用作試驗源。電子芯片所需的防塵等級一般為IP5或IP6，在完全保護(hù)粉塵進(jìn)入，或粉塵進(jìn)入后不影響芯片元件的正常運行。一般來說，電子芯片的防塵試驗是通過IP6級保護(hù)進(jìn)行的，因為灰塵堆積過多會對電子芯片造成損壞，所以完全除塵是一種很好的保護(hù)方法。